Ⅰ. 실험 제목 : Kerr effect
Ⅱ. 실험 목적
: 이 실험에서는 빛이 전기장에서 진행할 때 전기장의 크기에 따라 생기는 extraordinary beam과 normal beam
사이에 위상차와 전기장의 크기와 어떠한 관계에 있는 지를 설명하는 Kerr effect를 확인하고, 통과하는 빛에
전기장을 걸어주는 crystal의 Kerr constant를 구해 본다.
Ⅲ. 실험방법/결과
1. source light 없이 검출기의 전압을 측정하였더니 0.08 V가 측정되었다. 이는 background Intensity로써 실험 시
측정된 전압에서 이 값을 빼주고 분석을 해야 한다.
2. 편광판 없이 source light 만의 세기를 측정한다. 측정값은 0.4556 V 이다.
3. 인가전압을 50 V씩 증가시켜가며(Max.:950 V) 검출기에 측정된 전압을 기록한다. 인가전압을 증가시킨 후 약
5분간 기다려야 안정된 실험값을 측정할 수 있다.
인가된 전압(V)
측정된 전압(V)
인가된 전압(V)
측정된 전압(V)
297
0.154
703
0.4101
350
0.161
757
0.4146
400
0.23
800
0.412
446
0.279
846
0.401
503
0.326
896
0.376
552
0.356
950
0.335
600
0.381
1002
0.352
653
0.399
우리는 인가된 전압 의 제곱() vs.
의 그래프가 필요하다. 즉, 의 값이 필요하다.
검출기를 이용하여 빛의 세기를 전압()로 측정하였고,
=0.444
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2014.01.20
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